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供求信息
> 薄膜测厚仪
[Updated: 2013/05/31] |
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AND-001薄膜测厚仪
主要用途及特点:
本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压
花的薄膜和薄片)、读数直观,使用方便。执行GB/T6672-2001标
准。
技术参数:
测量范围:0-1㎜
分度值:0.001㎜
上测头曲率半径:15~50㎜
测头对试样施加负荷:0.1~0.5N
保修一年 终身维护
优惠促销,欢迎致电咨询!0531-87525531 18615199095
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