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济南艾德诺仪器有限公司

 
 
供求信息 > 薄膜测厚仪 [Updated: 2013/05/31]
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AND-001薄膜测厚仪  
                
主要用途及特点:
本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压
花的薄膜和薄片)、读数直观,使用方便。执行GB/T6672-2001标
准。
技术参数:
测量范围:0-1㎜  
分度值:0.001㎜    
上测头曲率半径:15~50㎜
测头对试样施加负荷:0.1~0.5N

保修一年 终身维护
优惠促销,欢迎致电咨询!0531-87525531   18615199095
 
Valid Until 2014/05/31


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联系人 王新

 
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